Язык:ru 
- zh-cn
- en
- ru
- fr
Element(Hong Kong ) Technology
| Тип ： | SNJ54BCT8374AFK |
|---|---|
| Классификация： | Специальность Логика |
| Производитель： | Texas Instruments |
| Описание ： | SCAN TEST DEVIC |
| Упаковка： | - |
| Упаковка： | Трубка |
| Количество ： | 13000 |
| Состояние RoHS： | 1 |
|
Параметры продукции
|
| ТИП | ОПИСАНИЕ |
| Производитель | Texas Instruments |
| Ряд | 54BCT |
| Упаковка | Трубка |
| Статус продукта | ACTIVE |
| Пакет/кейс | 28-CLCC |
| Тип монтажа | Surface Mount |
| Количество битов | 8 |
| Тип логики | Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops |
| Рабочая Температура | -55°C ~ 125°C |
| Напряжение питания | 4.5V ~ 5.5V |
| Пакет устройств поставщика | 28-LCCC (11.43x11.43) |
